202510
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荷兰接管 Nexperia 后的硬件安全审计:一次技术深潜

荷兰政府接管 Nexperia 后,如何从技术上验证其海量分立器件的安全性?本文深入探讨了针对非复杂芯片的硬件后门排查策略,覆盖旁路信道分析、物理逆向工程和供应链可信根重建等核心技术挑战。

在荷兰政府宣布对芯片制造商 Nexperia (安世半导体) 实施接管后,一个关键且艰巨的技术挑战浮出水面:如何对一家年产超过千亿颗、产品种类繁多的半导体公司的存量与未来产品进行全面的硬件安全审计?与公众普遍关注的 CPU 或 SoC 中的复杂逻辑后门不同,Nexperia 的核心产品是分立器件、逻辑器件和功率半导体。对这类“基础元件”进行安全审计,需要一套迥异的思维模型和技术组合,其核心是从物理和统计学层面重建信任,而非仅仅进行功能层面的漏洞扫描。

挑战的独特性:审计“砖块”而非“大楼”

硬件安全审计通常聚焦于包含复杂微处理器和片上系统(SoC)的芯片,旨在发现未经授权的逻辑功能、隐藏的指令集或可被远程利用的漏洞。然而,Nexperia 的产品组合主要由二极管、晶体管、MOSFET 和基础逻辑门电路构成。这些是构成复杂电子系统的“砖块”,本身不包含复杂的固件或可编程逻辑。

因此,针对 Nexperia 产品的硬件后门排查,其关注点必须下沉到物理和电气特性层面。一个潜在的硬件木马可能不会表现为额外的功能,而是以更隐蔽的方式存在:

  1. 参数漂移型木马 (Parameter-Drift Trojans):恶意修改可能潜藏在制造过程的掺杂浓度、材料成分或物理尺寸的微小变动中。这可能导致器件在特定电压、温度或频率下表现出异常的电气特性,或是在长期运行后出现远超预期的过早老化和失效。这种失效是可被预测和触发的,从而构成一种“定时炸弹”。
  2. 信息泄露型木马 (Leakage Trojans):通过对器件物理实现的微调,使其在正常工作时,功耗、电磁辐射或时序等旁路信道(Side-Channel)信息会与特定数据产生关联,从而向外部观察者泄露敏感信息。对于功率MOSFET等器件,这种泄露可能暴露整个电源系统的工作状态。
  3. 可靠性攻击 (Reliability Attack):植入的木马可能在正常测试中无法被发现,但在特定(可能罕见)的电应力或环境条件下被激活,导致器件永久性损坏或性能急剧下降,进而危及整个系统的可靠性,这在汽车电子或工业控制等高可靠性领域是致命的。

面对数以百亿计的微小元件,逐一进行彻底的破坏性物理分析显然不切实际。因此,审计必须是一项结合了供应链审查、统计学分析和高精度物理检测的系统工程。

多层递进的硬件可信根审计策略

为重建对 Nexperia 产品的信任,荷兰政府主导的审计团队可以采用一种多层递进的技术框架,从流程、统计到物理层面,逐级建立和验证可信根。

第一层:供应链与制造流程的可信审计

信任的起点并非芯片本身,而是其诞生的全过程。审计的第一步是针对 Nexperia 全球化的供应链进行一次彻底的穿透式审查。

  • 设计数据安全:必须确保从设计(GDSII 版图文件)到光刻掩模(Mask)的传递路径是安全且可追溯的。所有设计文件的访问、修改记录都需要被严格审计,以确保其完整性和保密性。
  • 晶圆厂与封测厂审查:对位于德国汉堡、英国曼彻斯特以及亚洲各地的晶圆制造和封装测试工厂,需要派遣技术专家团队进行现场审计。审查范围包括设备的操作日志、化学品与原材料的采购记录、人员的访问控制以及在制品(WIP)的流转监控,排除任何未经授权的流程步骤或材料替换。

第二层:建立“黄金样本”与大规模旁路信道分析

在流程可信的基础上,下一步是为每一种产品建立一个绝对可信的“黄金样本”(Golden Sample)。该样本可以在一个完全受控的、经过最高安全认证的第三方晶圆厂,使用经过严格审查的设计版图和光刻掩模制造而成。这个黄金样本是所有后续比对的基准。

随后,审计的核心将转向大规模、非破坏性的旁路信道分析。自动化测试设备(ATE)需要被改造,以支持对量产芯片进行高精度电气特性快照。

  • 测试参数:测试序列将驱动芯片工作在不同的电压和频率下,同时精确记录其功耗曲线、电磁辐射频谱和引脚时序的细微抖动。
  • 统计异常检测:通过将数百万颗量产芯片的旁路信道“指纹”与“黄金样本”的指纹进行统计学比对,可以快速发现异常。任何一批次的产品,如果其电气参数的均值或方差显著偏离黄金样本(例如,超过六西格玛标准差),就会被标记为“可疑批次”,需要进入更深层次的分析。这是一种高效的、适用于海量筛选的“安检”手段。

第三层:基于抽样的破坏性物理逆向工程

对于在第二层被标记为可疑的批次,以及作为常规质量保证的随机抽样,必须进行最彻底的破坏性物理分析(Destructive Physical Analysis)。

  • 芯片解封与逐层成像:使用化学腐蚀或激光烧蚀技术剥离芯片的封装,然后利用聚焦离子束(FIB)和扫描电子显微镜(SEM)对芯片进行纳米级的逐层“切片”和成像。
  • 版图比对:将获得的高分辨率物理版图图像与原始的、可信的 GDSII 设计文件进行像素级比对。自动化图像分析软件可以高效地找出任何不匹配之处,例如额外的逻辑门、异常的布线或修改过的晶体管结构。正如一篇关于硬件木马检测的研究所述,物理分析是发现未知木马的终极手段,尽管其成本高昂。

结论:从物理现实中重建数字信任

对 Nexperia 的硬件安全审计,本质上是一场在物理层面重建数字信任的战役。它要求安全审计的范式从传统的软件和逻辑分析,转向基于半导体物理、材料科学和精细制造工艺的深度审查。通过建立“流程可信、样本可信、统计可信”的三重保障,并辅以高精度的物理验证作为最终裁决,才有可能在一个全球化的、高度分散的半导体产业链中,为这些最基础的电子元件重新注入确定性和安全性。这项工作的成功与否,不仅关系到 Nexperia 的未来,更将为关键基础设施领域的供应链安全提供一个重要的实践范例。